发布人： 时间：2019年10月09日
仪器名称：高分辨透射电子显微镜
英文名称：hrtem
型号：fei talos f200x g2
主要规格及技术指标：
200kv下tem信息分辨率：0.12nm
200kv下stem分辨率： 0.16nm
主要功能及特色
box设计，人机分离操作；
稳定的电子枪和高压设计；
大极靴设计及恒功率物镜设计；
轴向的stem探测器，可以同时成像；
下一条：squid vsm磁强计
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